ST4080-OSP(有機(jī)可焊性保護(hù)膜)專用于測(cè)量PCB/PWB上銅鉑厚度。它屬于使用分光反射法的非破壞性光學(xué)測(cè)量?jī)x,它可提供平均厚度和詳細(xì)的3D平面輪廓資料,使得實(shí)時(shí)檢測(cè)無需任何的樣品制備。 由于ST4080-OSP具有測(cè)量很小面積與自動(dòng)聚焦功能,適用于PCB基板表面的實(shí)模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測(cè)量技術(shù),而它在半導(dǎo)體,平板顯示與其他電子材料行業(yè)方面的性得到了證實(shí)。 為什么要選擇 ST4080-OSP? ST4080-OSP使用反射測(cè)量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實(shí)時(shí)測(cè)量。 ST4080-OSP 無需樣品制備,可確保快速和簡(jiǎn)便操作。 ST4080-OSP測(cè)量的光斑尺寸可減小到0.135,這使得它可測(cè)量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度. ST4080-OSP 與紫外可見分光計(jì),受迫離子束方法,時(shí)序電化學(xué)還原分析還有其他的測(cè)量方法相比較,它基于更的測(cè)量技術(shù)。 ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內(nèi)的多波長(zhǎng)光譜。 ST4080-OSP可提供各點(diǎn)和它們的平均厚度的詳細(xì)數(shù)據(jù),這樣可幫助人們更好地控制OSP質(zhì)量。 ST4080-OSP 通過3D表面形態(tài)學(xué)將測(cè)量程序化。 | ||
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波長(zhǎng)范圍 | 420nm-640nm |
測(cè)量范圍 | 0.035-3um |
最小光斑尺寸 | 1.35 , 0.135 |
測(cè)試面積 | 864X648 /86.4X64.8 |
放大倍數(shù) | 5X,50X |
測(cè)量層 | 1 |
Z軸再現(xiàn)性 | ± 1 |
規(guī) 格 | 大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬) | 大測(cè)量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
規(guī) 格 | 大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬) | 大測(cè)量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
規(guī) 格 | 大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬) | 大測(cè)量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
規(guī) 格 | 最大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬) | 最大測(cè)量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
二、 陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x主要技術(shù)參數(shù):
1、測(cè)厚儀的度:±0.1mm
2、測(cè)量范圍: 1000×1000mm
3、測(cè)量厚度:25mm 需要進(jìn)一步的清楚 陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x效果→制作▲電腦軟件▍使用…售后▼的價(jià)格等疑惑恭候您的來電。現(xiàn)關(guān)鍵研制銷售的產(chǎn)品產(chǎn)品系列有:電子多功能測(cè)試機(jī)系列試驗(yàn)產(chǎn)品,建筑防水材料檢測(cè)系列產(chǎn)品,建筑節(jié)能保溫測(cè)驗(yàn)系列產(chǎn)品,波紋管及管材測(cè)驗(yàn)系列試驗(yàn)產(chǎn)品,水利水電粗粒土測(cè)試系列試驗(yàn)產(chǎn)品,陶瓷磚測(cè)試系列檢測(cè)設(shè)備,巖石測(cè)定系列儀器,隔墻板檢測(cè)系列試驗(yàn)產(chǎn)品,鋼筋彎曲測(cè)試機(jī)系列試驗(yàn)產(chǎn)品,混凝土試驗(yàn)系列試驗(yàn)產(chǎn)品,水泥測(cè)試系列檢測(cè)設(shè)備,砂漿實(shí)驗(yàn)系列試驗(yàn)產(chǎn)品,土工測(cè)試系列儀器,集料試驗(yàn)系列儀器,瀝青實(shí)驗(yàn)系列產(chǎn)品,瀝青混合料試驗(yàn)系列產(chǎn)品,路面試驗(yàn)系列試驗(yàn)產(chǎn)品,無損測(cè)定試驗(yàn)產(chǎn)品等。
一、產(chǎn)品概述:
OU1500型鋼板測(cè)厚儀是我公司最新推出的小型數(shù)字化雙顯測(cè)厚儀,利用嵌入式高速單片機(jī)技術(shù)及優(yōu)質(zhì)進(jìn)口工業(yè)級(jí)電子元器件組裝調(diào)試而成。采用液晶顯示測(cè)量厚度值,并且同時(shí)顯示聲速,自動(dòng)校準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)了已知聲速測(cè)厚度及已知厚度測(cè)聲速兩大功能。 操作簡(jiǎn)便,穩(wěn)定可靠,是無損檢測(cè)工作者的理想檢測(cè)工具。 二、產(chǎn)品用途:OU1500型鋼板測(cè)厚儀是基本型,該儀器利用超聲波原理可以對(duì)任何超聲波良導(dǎo)體材料厚度進(jìn)行測(cè)量,如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。二、主要技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | OU1500 |
測(cè)量范圍 | 1.0~220mm( 45#鋼) |
顯示分辨率 | 0.1mm |
聲速范圍 | 500-9999m/s |
工件表面溫度 | -10~+50℃ |
顯示 | 八位液晶顯示 |
背光 | 自動(dòng)感應(yīng) |
示值誤差 | ±(0.5%H+0.1)mm, H 為實(shí)際厚度值 |
管材測(cè)量下限 | Φ20mm×3.0mm(5PΦ10 探頭,鋼材) |
操作時(shí)間 | 可連續(xù)操作250 小時(shí) |
工作電源 | 2節(jié)5號(hào)電池 |
外形尺寸 | 130×65×22mm |
整機(jī)重量 | 160g(不包括電池) |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 手提箱-1只、主機(jī)-1臺(tái)、 5PΦ10探頭-1支、電池-2節(jié) 耦合劑-1瓶、隨機(jī)文件-1套 |
資料來源:滄州歐譜 鋼板測(cè)厚儀 http://www.gangbancehouyi.com
陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x用于測(cè)量普通量具無法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測(cè)量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量,具有精度高、讀數(shù)、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn),是有關(guān)生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。
二、技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)厚儀的精度:±0.1mm
2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍:
規(guī) 格 | 最大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬) | 最大測(cè)量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
SpectraThick4000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞,所以是非接觸式,非破壞式,不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測(cè)量迅速正確,且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4) 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7)可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)超大型Stage (PDP專用)
SpectraThick4000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
Measurement Range | 100?~ 50μ m(Depends on Film Type) |
Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
一、簡(jiǎn)介:
MTY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x(簡(jiǎn)稱測(cè)厚儀)是用于測(cè)量普通量具無法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測(cè)量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量,具有度高、讀數(shù)、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn),是有關(guān)生產(chǎn)與質(zhì)檢單位的良好儀器。
二、主要技術(shù)參數(shù):
1.測(cè)厚儀的度:±0.1mm
2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍:
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一、簡(jiǎn)介:
MTY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x(簡(jiǎn)稱測(cè)厚儀)是用于測(cè)量普通量具無法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測(cè)量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量,具有度高、讀數(shù)、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn),是有關(guān)生產(chǎn)與質(zhì)檢單位的良好儀器。
二、主要技術(shù)參數(shù):
1.測(cè)厚儀的度:±0.1mm
2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍:
規(guī) 格 | 大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬) | 大測(cè)量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
一、簡(jiǎn)介:
MTY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x(簡(jiǎn)稱測(cè)厚儀)是用于測(cè)量普通量具無法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測(cè)量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量,具有度高、讀數(shù)、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn),是有關(guān)生產(chǎn)與質(zhì)檢單位的良好儀器。
二、主要技術(shù)參數(shù):
1.測(cè)厚儀的度:±0.1mm
2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍:
規(guī) 格 | 大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬) | 大測(cè)量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
用于測(cè)量普通量具無法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測(cè)量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量,具有精度高、讀數(shù)準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn),是有關(guān)生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。
技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)厚儀的精度:±0.1mm
2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍:
規(guī) 格 | 最大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬) | 最大測(cè)量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
MTSY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x
用于測(cè)量普通量具無法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測(cè)量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量,具有精度高、讀數(shù)準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn),是有關(guān)生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。
技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)厚儀的精度:±0.1mm
2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍:
規(guī) 格 | 最大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬) | 最大測(cè)量厚度 |
CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |