BX610-T-112防腐層測(cè)厚儀,鍍層厚度測(cè)量?jī)x

 產(chǎn)品特點(diǎn):

 

* 具有自動(dòng)識(shí)別被測(cè)基體的材質(zhì)。

* 有單次和連續(xù)兩種測(cè)量方式可選。

* 操作過程中有蜂鳴器提示音,連續(xù)測(cè)量時(shí)蜂鳴器不發(fā)聲。

* 采用USB數(shù)據(jù)線輸出與PC通訊。

* 提供藍(lán)牙Bluetooth數(shù)據(jù)輸出選擇。

主要內(nèi)容:

 

 

 防腐層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量;既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng);廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)域;是材料保護(hù)專業(yè)德杜的儀器。

技術(shù)參數(shù):

 

分辨率

0.01mm / 0.1mm

準(zhǔn)確度 ±(1~3%n)或±0.2mm
測(cè)試范圍 0~12mm(測(cè)量范圍可定制)
測(cè)量方法

F磁感應(yīng)

操作條件

溫度-5~50°C

濕度<95%RH

電源 4x1.5AAA   7號(hào)電池
主機(jī)尺寸 140x70x30mm
主機(jī)重量 130g (不含電池) 

 

產(chǎn)品配件                                                                                                                                                                  

 

 

 

 

標(biāo)準(zhǔn)配件

 

主機(jī)

鐵基(1塊)
校準(zhǔn)膜片(1套)
測(cè)量傳感器
手提便攜箱
操作說明書
可選配件 USB數(shù)據(jù)線輸出
藍(lán)牙Bluetooth數(shù)據(jù)輸出
該公司產(chǎn)品分類: 測(cè)氡儀 氧氣檢測(cè)儀 氫氣氣體檢測(cè)報(bào)警儀 氣體檢測(cè)報(bào)警儀 熏蒸氣體檢測(cè)儀 空氣質(zhì)量檢測(cè)儀 垃圾場(chǎng)有毒有害氣體測(cè)試儀 酒精測(cè)試儀 有毒氣體檢測(cè)儀 甲烷檢測(cè)儀 可燃?xì)怏w檢測(cè)儀/探測(cè)儀 復(fù)合氣體檢測(cè)儀 顯微鏡 苯檢測(cè)儀 揮發(fā)性有機(jī)氣體測(cè)試儀 臭氧檢測(cè)分析儀 甲醛檢測(cè)分析儀 二氧化硫檢測(cè)儀 檢測(cè)儀 氨氣檢測(cè)儀

MTSY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x簡(jiǎn)介

 
MTSY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x
一、   概述
陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x用于測(cè)量普通量具無法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測(cè)量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量,具有精度高、讀數(shù)準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn),是有關(guān)生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。
二、技術(shù)參數(shù)    
1.測(cè)厚儀的精度:±0.1mm
2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍:
規(guī) 格
最大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬)
最大測(cè)量厚度
CHD-1000
1000×1000mm
25 mm
CHD-600
600×600 mm
18 mm
 
該公司產(chǎn)品分類: 隔墻板測(cè)試儀器系列 玻璃瓶 巖石系列 陶瓷磚檢測(cè)系列 波紋管檢測(cè)系列 瀝青混凝土測(cè)試儀器系列 壓力機(jī)萬(wàn)能機(jī)類系列 土工試驗(yàn)儀器系列 涂料陶瓷磚瓦實(shí)驗(yàn)儀器系列 試驗(yàn)箱系列 試模系列 篩具振篩機(jī)系列 瀝青系列 混凝土,水泥,砂漿實(shí)驗(yàn)儀器系列 公路鐵路檢測(cè)系列 水利水電粗粒土試驗(yàn)儀器系列 微機(jī)伺服控制電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)系列 土工合成材料測(cè)試儀器系列 建筑節(jié)能材料測(cè)試儀器系列 建筑防水材料測(cè)試儀器系列

CHD-600陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

    CHD型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x(以下簡(jiǎn)稱測(cè)厚儀)是用于測(cè)量普通量具無法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測(cè)量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量,具有精度高、讀數(shù)、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn),是有關(guān)生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。

主要技術(shù)參數(shù)    

1.測(cè)厚儀的精度:±0.1mm

2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍:

規(guī)  格

最大測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬)

最大測(cè)量厚度

CHD-1000

1000×1000mm

25 mm

CHD-600

600×600 mm

18 mm

 

臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展

產(chǎn)品簡(jiǎn)介: EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法(或稱“零橢偏”)測(cè)量原理,針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。與EM22儀器相比,該儀器采用半導(dǎo)體激光器作為光源,穩(wěn)定性好,體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。EX3儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料(如,金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn):經(jīng)典消光法橢偏測(cè)量原理儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理,易于理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì),簡(jiǎn)潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連,方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為探測(cè)光的光源,穩(wěn)定性高,噪聲低。豐富實(shí)用的樣品測(cè)量功能可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等。便捷的自動(dòng)化操作儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測(cè)量,并可進(jìn)行方便的測(cè)量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。安全的用戶使用權(quán)限管理軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限(包括:管理員、等模式),便于儀器管理和使用。可擴(kuò)展的儀器功能利用本儀器,可通過適當(dāng)擴(kuò)展,完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn),如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。應(yīng)用領(lǐng)域:EX3適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測(cè)量,也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測(cè)量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo): 項(xiàng)目 技術(shù)指標(biāo) 儀器型號(hào) EX3 測(cè)量方式 自動(dòng)測(cè)量 臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號(hào)圖片
型號(hào):JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀(光伏專用)型號(hào):JX200097EM01-RD 多入射角激光橢偏儀型號(hào):JX200091EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀
【臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào),如沒有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢 河北德科機(jī)械設(shè)備有限公司】臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀(光伏專用)
EM12-PV是采用量拓科技先進(jìn)的測(cè)量技術(shù),針對(duì)中端精度需求的光伏太陽(yáng)能電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。EM12-PV用于測(cè)量絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測(cè)量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度,以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。EM12-PV融合多項(xiàng)量拓科技專利技術(shù),采用一體化樣品臺(tái)技術(shù),兼容測(cè)量單晶和多晶太陽(yáng)電池樣品。一鍵式多線程操作軟件,使得儀器操作簡(jiǎn)單安全。特點(diǎn):粗糙絨面納米薄膜的測(cè)量先進(jìn)的光能量增強(qiáng)技術(shù)、低噪聲的探測(cè)器件以及高信噪比的微弱信號(hào)處理方法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽(yáng)電池表面納米鍍層的檢測(cè)。次納米量級(jí)的高靈敏度和準(zhǔn)確度國(guó)際先進(jìn)的采樣方法、穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了高準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性,測(cè)量絨面減反膜的厚度精度優(yōu)于0.2nm。1.6秒的快速測(cè)量國(guó)際水準(zhǔn)的儀器設(shè)計(jì),在保證極高精度和準(zhǔn)確度的同時(shí),可在1.6秒內(nèi)快速完成一次測(cè)量,可滿足快速多點(diǎn)檢測(cè)和批量檢測(cè)需求。簡(jiǎn)單方便安全的儀器操作一鍵式操作設(shè)計(jì),用戶只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測(cè)量和分析過程,數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出,豐富的模型庫(kù)和材料庫(kù)也同時(shí)方便了用戶的高級(jí)操作需求。應(yīng)用:EM12-PV適合于光伏領(lǐng)域中端精度要求的工藝研發(fā)和現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量控制。EM12-PV可用于測(cè)量絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)電池表面上單層減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n,典型納米膜層包括SiNx,ITO,TiO2,SiO2,A12O3,HfO2等,應(yīng)用領(lǐng)域包括晶體硅太陽(yáng)電池、薄膜太陽(yáng)電池等。EM12-PV也可用于測(cè)量光滑平面基底上的單層或雙層納米薄膜,包括膜層的厚度,以及在632.8nm下的折射率n和消光系數(shù)k。也可用于測(cè)量塊狀材料(包括,液體、金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等)在632.8nm下的折射率n和消光系數(shù)k。應(yīng)用領(lǐng)域包括半導(dǎo)體、微電子、平板顯示等。
技術(shù)指標(biāo):
項(xiàng)目
技術(shù)指標(biāo)
儀器型號(hào)
EM12-PV
激光波長(zhǎng)
632.8nm (He-Ne Laser)
膜厚測(cè)量重復(fù)性(1)
0.2nm (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
0.2nm (對(duì)于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層)
折射率精度(1)
2x10-3 (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
2x10-3 (對(duì)于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層)
單次測(cè)量時(shí)間
與測(cè)量設(shè)置相關(guān),典型1.6s
光學(xué)結(jié)構(gòu)
PSCA(Δ在0°或180°附近時(shí)也具有極高的準(zhǔn)確度)
激光光束直徑
1-2mm
入射角度
40°-90°可手動(dòng)調(diào)節(jié),步進(jìn)5°
樣品方位調(diào)整
一體化樣品臺(tái)輕松變換可測(cè)量單晶或多晶樣品
可測(cè)量156*156mm電池樣品上每個(gè)點(diǎn)
Z軸高度調(diào)節(jié):±6.5mm
二維俯仰調(diào)節(jié):±4°
樣品對(duì)準(zhǔn):光學(xué)自準(zhǔn)直顯微和望遠(yuǎn)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)
樣品臺(tái)尺寸
平面樣品直徑可達(dá)Φ170mm
兼容125*125mm和156*156mm的太陽(yáng)能電池樣品
的膜層厚度范圍
粗糙表面樣品:與絨面物理結(jié)構(gòu)及材料性質(zhì)相關(guān)
光滑平面樣品:透明薄膜可達(dá)4um,吸收薄膜與材料性質(zhì)相關(guān)
外形尺寸
887 x 332 x 552mm (入射角為90º時(shí))
儀器重量(凈重)
25Kg
選配件
水平XY軸調(diào)節(jié)平移臺(tái)
真空吸附泵
軟件
ETEM軟件:
  • 中英文界面可選
  • 太陽(yáng)能電池樣品預(yù)設(shè)項(xiàng)目供快捷操作使用
  • 單角度測(cè)量/多角度測(cè)量操作和數(shù)據(jù)擬合
  • 方便的數(shù)據(jù)顯示、編輯和輸出
  •  豐富的模型和材料數(shù)據(jù)庫(kù)支持
注:(1)測(cè)量重復(fù)性:是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量25次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證:穩(wěn)定的He-Ne激光光源、先進(jìn)的采樣方法以及低噪聲探測(cè)技術(shù),保證了穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度一體化樣品臺(tái)技術(shù),兼容單晶和多晶硅太陽(yáng)電池樣品,輕松變換可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測(cè)量高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直顯微和望遠(yuǎn)系統(tǒng),保證了快速、高精度的樣品方位對(duì)準(zhǔn)新型樣品調(diào)節(jié)技術(shù),有效提高樣品定位精度,并節(jié)省操作時(shí)間新型光電增強(qiáng)技術(shù)和獨(dú)特的噪聲處理方法,顯著降低現(xiàn)場(chǎng)噪聲的影響一體化集成式儀器整體設(shè)計(jì),保證了系統(tǒng)穩(wěn)定性,并節(jié)省空間分立式的多入射角選擇,可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和厚度的測(cè)量一鍵式軟件設(shè)計(jì)以及豐富的物理模型庫(kù)和材料數(shù)據(jù)庫(kù),方便用戶使用可選配件: NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片 VP01真空吸附泵 VP02 真空吸附泵 
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200094.htmlEM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀(光伏專用)型號(hào):JX200097EM01-RD 多入射角激光橢偏儀
特別聲明:EM01-RD多入射角激光橢偏儀(研發(fā)級(jí))已升級(jí)至EMPro31 型多入射角激光橢偏儀,主要升級(jí)內(nèi)容包括:?jiǎn)未螠y(cè)量速度提高3倍;新的儀器外形;整體穩(wěn)定性增強(qiáng). 納米薄膜高端研發(fā)領(lǐng)域?qū)S玫亩嗳肷浣羌す鈾E偏儀,用于納米薄膜的厚度、折射率n、消光系數(shù)k等參數(shù)的測(cè)量。適用于光面或絨面納米薄膜測(cè)量、塊狀固體參數(shù)測(cè)量、快速變化的納米薄膜實(shí)時(shí)測(cè)量等不同的應(yīng)用場(chǎng)合。采用量拓科技多項(xiàng)專利技術(shù),儀器操作具有個(gè)性化定制功能,方便使用。特點(diǎn):高精度、高穩(wěn)定性 一體化集成設(shè)計(jì)快速、高精度樣品方位對(duì)準(zhǔn)多入射角度測(cè)量快速反應(yīng)過程的實(shí)時(shí)測(cè)量操作簡(jiǎn)單豐富的材料庫(kù)及物理模型強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和管理 應(yīng)用領(lǐng)域:可對(duì)納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k進(jìn)行快速、高精度、高準(zhǔn)確度的測(cè)量,尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)可用于表征單層納米薄膜、多層納米層構(gòu)膜系,以及塊狀材料(基底)。應(yīng)用領(lǐng)域涉及納米薄膜的幾乎所有領(lǐng)域,如微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、電化學(xué)、磁介質(zhì)存儲(chǔ)、聚合物及金屬表面處理等。性能保證:高穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、高精度的采樣方法以及低噪聲探測(cè)技術(shù),保證了系統(tǒng)的高穩(wěn)定性和高準(zhǔn)確度.高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直望遠(yuǎn)系統(tǒng),保證了快速、高精度的樣品方位對(duì)準(zhǔn)穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、可靠的樣品方位對(duì)準(zhǔn),結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù),保證了快速、穩(wěn)定測(cè)量分立式的多入射角選擇,可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和厚度的測(cè)量一體化集成式的儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),使得系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、整體穩(wěn)定性提高,并節(jié)省空間專用軟件方便納米薄膜樣品的測(cè)試和建模。 技術(shù)指標(biāo):

激光波長(zhǎng)

 
632.8nm (He-Ne laser)
膜厚測(cè)量重復(fù)性
0.01nm (對(duì)于Si基底上110nm的SiO2膜層)
折射率精度
1x10-4 (對(duì)于Si基底上110nm的SiO2膜層)
光學(xué)結(jié)構(gòu)
PSCA
激光光束直徑
<1mm
入射角度
40°-90°可選,步進(jìn)5°
樣品方位調(diào)整
三維平移調(diào)節(jié)
二維俯仰調(diào)節(jié)
光學(xué)自準(zhǔn)直系統(tǒng)對(duì)準(zhǔn)
樣品臺(tái)尺寸
Φ170mm
單次測(cè)量時(shí)間
0.2s
推薦測(cè)量范圍
0-6000nm
外形尺寸(長(zhǎng)x寬x高)
887 x 332 x 552mm (入射角為70º時(shí))
儀器重量(凈重)
25Kg

 

可選配件:NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片VP01真空吸附泵VP02真空吸附泵樣品池 
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200097.htmlEM01-RD 多入射角激光橢偏儀型號(hào):JX200091EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀
EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法(或稱“零橢偏”)測(cè)量原理,針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。與EM22儀器相比,該儀器采用半導(dǎo)體激光器作為光源,穩(wěn)定性好,體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。EX3儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料(如,金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn):經(jīng)典消光法橢偏測(cè)量原理儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理,易于理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì),簡(jiǎn)潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連,方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為探測(cè)光的光源,穩(wěn)定性高,噪聲低。豐富實(shí)用的樣品測(cè)量功能可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等。便捷的自動(dòng)化操作儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測(cè)量,并可進(jìn)行方便的測(cè)量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。安全的用戶使用權(quán)限管理軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限(包括:管理員、等模式),便于儀器管理和使用。可擴(kuò)展的儀器功能利用本儀器,可通過適當(dāng)擴(kuò)展,完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn),如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。應(yīng)用領(lǐng)域:EX3適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測(cè)量,也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測(cè)量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo):
項(xiàng)目
技術(shù)指標(biāo)
儀器型號(hào)
EX3
測(cè)量方式
自動(dòng)測(cè)量
樣品放置方式
水平放置
光源
半導(dǎo)體激光器,波長(zhǎng)635nm
膜厚測(cè)量重復(fù)性*
0.5nm (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層)
膜厚范圍
透明薄膜:1-4000nm
吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān)
折射率范圍
1.3 – 10
探測(cè)光束直徑
Φ2-3mm
入射角度
30°-90°,精度0.05°
偏振器方位角讀數(shù)范圍
0-360°
偏振器步進(jìn)角
0.014°
樣品方位調(diào)整
Z軸高度調(diào)節(jié):16mm
二維俯仰調(diào)節(jié):±4°
允許樣品尺寸
圓形樣品直徑Φ120mm,矩形樣品可達(dá)120mm x 160mm
配套軟件
* 用戶權(quán)限設(shè)置
* 多種測(cè)量模式選擇
* 多個(gè)測(cè)量項(xiàng)目選擇
* 方便的數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出
外形尺寸
(入射角度70°時(shí))450*375*260mm
儀器重量(凈重)
15Kg
注:(1)測(cè)量重復(fù)性:是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量30次的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證:ISO9001國(guó)際質(zhì)量體系下的儀器質(zhì)量保證專業(yè)的儀器使用培訓(xùn)專業(yè)的橢偏測(cè)量原理課程 
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200091.htmlEX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀熱門搜索:EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀(光伏專用)     VP02 真空吸附泵     EM01-RD 多入射角激光橢偏儀     EX3 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀     EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀(光伏專用)     EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀     臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展【河北潤(rùn)聯(lián)科技開發(fā)有限公司】創(chuàng)新科技先鋒品牌★★誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)企業(yè)★★電子商務(wù)企業(yè)獎(jiǎng)★★工業(yè)產(chǎn)品推薦★★機(jī)械行業(yè)品牌★★撥打電話請(qǐng)告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào),熱線:【牛經(jīng)理400-076-1255】【溫馨提示】本公司產(chǎn)品因產(chǎn)品種類繁多,詳細(xì)配置價(jià)格請(qǐng)致電咨詢![河北德科機(jī)械設(shè)備有限公司]——是集科研、開發(fā)、制造、經(jīng)營(yíng)于一體,的工程試驗(yàn)儀器專業(yè)制造實(shí)體。公司主要經(jīng)營(yíng)砼混凝土儀器,水泥試驗(yàn)儀器,砂漿試驗(yàn)儀器,泥漿試驗(yàn)儀器,土工試驗(yàn)儀器,瀝青試驗(yàn)儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗(yàn)儀器,壓力試驗(yàn)機(jī)養(yǎng)護(hù)室儀器及實(shí)驗(yàn)室耗材等上百種產(chǎn)品。在以雄厚的技術(shù)底蘊(yùn)在強(qiáng)化自主開發(fā)的同時(shí),積極采用國(guó)內(nèi)外先進(jìn)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),尋求推進(jìn)與大專院校,科研單位的協(xié)作互補(bǔ),以實(shí)現(xiàn)新產(chǎn)品開發(fā)的高起點(diǎn),在交通部、建設(shè)部及科研所專家們的指導(dǎo)下,產(chǎn)品不斷完善,不斷更新。已廣泛用于建材,建筑施工,道橋建設(shè),水電工程和機(jī)械,交通、石油、化工等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測(cè)。并同國(guó)內(nèi)外各試驗(yàn)儀器廠建立了長(zhǎng)期合作關(guān)系,嚴(yán)把質(zhì)量關(guān),價(jià)格更優(yōu)惠!公司擁有現(xiàn)代化鋼構(gòu)倉(cāng)庫(kù)4000多平方米,并配備業(yè)內(nèi)的裝備設(shè)施,車輛出入方便,倉(cāng)庫(kù)管理實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化、高效化管理,確保儀器設(shè)備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗(yàn)儀器及測(cè)量、測(cè)繪電子廠家直供,國(guó)內(nèi)外一線知名儀器品牌匯聚于此,更是眾多新品上線網(wǎng)購(gòu)平臺(tái)的之地。全國(guó)服務(wù)隊(duì)伍專業(yè)快捷服務(wù),完善的呼叫中心服務(wù)體系,咨詢熱線:[牛經(jīng)理400-076-1255]迅速解決客戶問題,專業(yè)提供優(yōu)質(zhì)高效的售后服務(wù)。潤(rùn)聯(lián)為您提供詳細(xì)的產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息,您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料,聯(lián)系時(shí)請(qǐng)說明是在潤(rùn)聯(lián)看到的,并告知型號(hào)【關(guān)于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠(chéng)實(shí)守信、服務(wù)熱情周到的服務(wù)宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神,為客戶提供卓越的品質(zhì)和服務(wù)。因產(chǎn)品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請(qǐng)聯(lián)系我們!娟P(guān)于發(fā)貨】我們會(huì)在確認(rèn)合作方式以及合作達(dá)成時(shí)為您發(fā)貨考慮到成本的因素,我們一般采用物流發(fā)貨,不過請(qǐng)您放心,因?yàn)槲覀兊耐獾乜蛻舴浅V啵旧衔覀儤I(yè)務(wù)已經(jīng)覆蓋全國(guó),所以物流公司都是我們精心篩選的,不管是發(fā)貨時(shí)間,還是價(jià)格都是滿意的,同時(shí)我們?cè)诮桓段锪鞴竞髮⒃跁r(shí)間告知客戶,并且我們會(huì)將物流費(fèi)用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴(yán)格檢查商品的質(zhì)量的,請(qǐng)放心購(gòu)買。聯(lián)系方式:電話:400-076-1255
該公司產(chǎn)品分類: 閥門 勞保 五金 儀器 機(jī)械

空間分辨率達(dá)50微米晶圓厚度測(cè)量?jī)x

晶圓測(cè)厚儀,晶圓厚度測(cè)試儀,硅片測(cè)厚儀,硅片厚度測(cè)量?jī)x采用非接觸式測(cè)量方法,對(duì)晶圓的厚度和表面形貌進(jìn)行測(cè)量,可廣泛用于:MEMS, 晶圓,電子器件,膜厚,激光打標(biāo)雕刻等工序或器件的測(cè)量。更多表面殘留檢測(cè)儀器請(qǐng)瀏覽:http://www.f-lab.cn/surface-residue.html中國(guó)領(lǐng)先的進(jìn)口精密儀器供應(yīng)商!

Email: info@felles.cn 或  felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn                    (激光光學(xué)精密儀器網(wǎng))         www.felles.cc                     (綜合性尖端測(cè)試儀器網(wǎng))         www.f-lab.cn                       (綜合性實(shí)驗(yàn)室儀器網(wǎng))

該晶圓測(cè)厚儀,晶圓厚度測(cè)量?jī)x,硅片測(cè)厚儀,硅片厚度測(cè)量?jī)x專業(yè)為掩膜,劃線的晶圓,粘到藍(lán)寶石或玻璃襯底上的晶圓等各種晶圓的厚度測(cè)量而設(shè)計(jì),同時(shí),還適合50-300mm 直徑的晶圓的表面形貌測(cè)量。

該晶圓測(cè)厚儀,晶圓厚度測(cè)量?jī)x,硅片測(cè)厚儀,硅片厚度測(cè)量?jī)x采用紅外干涉技術(shù),能夠精確給出襯底厚度和厚度變化 (TTV),也能實(shí)時(shí)給出超薄晶圓的厚度(掩膜過程中的晶圓),非常適合晶圓的研磨、蝕刻、沉淀等應(yīng)用。這種紅外干涉技術(shù)具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì),諸多材料例 如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在紅外光束下都是透明的,非常容易測(cè)量,標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量空間分辨率可達(dá)50微米,更小的測(cè)量點(diǎn)也可以做到。

該晶圓測(cè)厚儀,晶圓厚度測(cè)量?jī)x,硅片測(cè)厚儀,硅片厚度測(cè)量?jī)x具有探針系統(tǒng)配件,使用該探針系統(tǒng)后,可以高精度地測(cè)量圖案化晶圓,帶 保護(hù)膜的晶圓, 鍵合晶圓和帶凸點(diǎn)晶圓(植球晶圓),wafers with patterns, wafer tapes,wafer  bump or bonded wafers 。

該晶圓測(cè)厚儀,晶圓厚度測(cè)量?jī)x,硅片測(cè)厚儀,硅片厚度測(cè)量?jī)x直接而精確地測(cè)量晶圓襯底厚度和厚度變化TTV,同時(shí)該晶圓測(cè)厚儀能夠測(cè)量晶圓薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸點(diǎn)厚度(wafer pump height).,溝槽深度 (trench depth).詳情瀏覽:http://www.f-lab.cn/surface-residue.html孚光精儀是全球領(lǐng)先的進(jìn)口科學(xué)儀器和實(shí)驗(yàn)室儀器領(lǐng)導(dǎo)品牌服務(wù)商,產(chǎn)品技術(shù)和性能保持全球領(lǐng)先,擁有包括表面殘留檢測(cè)儀器在內(nèi)的全球最為齊全的實(shí)驗(yàn)室和科學(xué)儀器品類,世界一流的生產(chǎn)工廠和極為苛刻嚴(yán)謹(jǐn)?shù)馁|(zhì)量控制體系,確保每個(gè)一產(chǎn)品是用戶滿意的完美產(chǎn)品。我們海外工廠擁有超過3000種儀器的大型現(xiàn)代化倉(cāng)庫(kù),可在下單后12小時(shí)內(nèi)從國(guó)外直接空運(yùn)發(fā)貨,我們位于天津保稅區(qū)的進(jìn)口公司眾邦企業(yè)(天津)國(guó)際貿(mào)易公司為客戶提供全球零延誤的進(jìn)口通關(guān)服務(wù)。

該公司產(chǎn)品分類: 成像光譜儀 X射線衍射儀 激光晶體和器件 翹曲度形貌儀

Thick800a電鍍層厚度測(cè)量?jī)x

 電鍍層厚度測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理般有以下五種類型:

1)磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量.導(dǎo)磁材料般為:鋼\\鐵\\銀\\鎳.此種方法測(cè)量精度高,FT220涂層測(cè)厚儀

2)渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量.此種方法較磁性測(cè)厚法精度高,NT230涂層測(cè)厚儀。

3)超聲波測(cè)厚法:目前內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,外個(gè)別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無法測(cè)量的場(chǎng)合.但般價(jià)格昂貴,測(cè)量精度也不高.

4)電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測(cè),需要破壞涂鍍層.般精度也不高.測(cè)量起來較其他幾種麻煩

5)X射線測(cè)厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴(般在十幾萬(wàn)RMB以上),適用于些特殊場(chǎng)合.

 

性能特點(diǎn)

 

1、上照式

2、測(cè)試組件可升降

3、高精度移動(dòng)平臺(tái)

4、小準(zhǔn)直器

5、高分辨率探頭

6、可視化操作

7、自動(dòng)定位高度

8、自動(dòng)尋找光斑

9、鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)

10、良好的射線屏蔽

11、超大樣品腔設(shè)計(jì)

12、測(cè)試口安防護(hù)

 

性能特點(diǎn)

 

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加

良好的射線屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

 

技術(shù)指標(biāo)

 

型號(hào):Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。

同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。

分析含量般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:90kg

 

標(biāo)準(zhǔn)配置

 

開放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測(cè)器。

信號(hào)檢測(cè)電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護(hù)傳感器

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

 

應(yīng)用領(lǐng)域

 

黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).

金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。

該公司產(chǎn)品分類: ROHS2.0新增4項(xiàng)鄰苯檢測(cè)儀 熱流儀 環(huán)保檢測(cè)儀 合金礦石土壤檢測(cè)儀 土壤重金屬檢測(cè)儀 手持式合金分析儀 X射線熒光光譜儀全元素分析儀 冶金冶煉鋼鐵有色金屬X熒光光譜元素分析儀 X熒光光譜儀 鍍層/膜厚測(cè)厚儀 ROHS檢測(cè)儀 網(wǎng)格化空氣質(zhì)量監(jiān)測(cè)系統(tǒng)EAQM-100S 大氣顆粒物在線分析儀EPM 1050 水質(zhì)綜合毒性分析儀 BIO3000 揚(yáng)塵噪聲在線監(jiān)測(cè)儀 EAD-100系列 手持式拉曼光譜儀Raman SK100 珠寶玉石檢測(cè)儀 UVN5000 大氣顆粒物在線分析儀 EPM-2050 比色法分析儀器 WAOL 紅外光譜儀 IR

CHY-10塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x(千分或百分測(cè)量)

商品描述:  

一、設(shè)備名稱:塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x(千分或百分測(cè)量)   型號(hào):CHY-10

二、設(shè)備用途:     本儀器是采用高精度數(shù)顯千分表測(cè)量塑料薄膜及薄片的專用儀器。具有測(cè)量精度高、數(shù)據(jù)穩(wěn)定等特點(diǎn),同時(shí)還可進(jìn)行英吋和毫米之間變換。

三、主要技術(shù)指標(biāo):     1測(cè)量精度 : 0.001mm/0.0005″     2測(cè)量范圍 : 0―10mm/0.2″

四、安裝方法:     1將底座從包裝中拿出,放于平穩(wěn)平面上.     2調(diào)整調(diào)整螺釘,使其處于水平位置.     3將千分表取出安裝在千分表支架上,并調(diào)整好上下測(cè)量塊,使其間隙為零.     4將千分表支架安裝在底座上的固定槽內(nèi),并用鎖緊手柄鎖緊.

五、使用方法:     用鋼絲軸將千分表測(cè)量頭抬起幾次后,將千分表值清零(按千分表上的”0”鈕).然后將測(cè)量頭抬起,把被測(cè)試樣放在下測(cè)量面上,將測(cè)量頭放下,這時(shí)千分表上的值即為被測(cè)試樣厚度值.(如果沒有試樣時(shí),表上仍有讀數(shù),則看測(cè)量面上是否有臟東西,如有則用柔軟干凈的布將其擦掉,如果沒有則直接按千分表”0”鈕清零即可。

該公司產(chǎn)品分類: 智能鞋覆膜機(jī)XT-46A 智能鞋覆膜機(jī)XT-46B 智能鞋覆膜機(jī)XT-46B(I) 智能鞋覆膜機(jī)XT-46B(II) 智能鞋覆膜機(jī)(鞋套機(jī))XT-46C 坤昱智能鞋底覆膜機(jī)(鞋套機(jī)) 聯(lián)系林先生05925508263 昆山舒美超聲波清洗器系列福建總代 中科美菱低溫保存箱/低溫冰箱 昆山舒美超聲波清洗器系列 海爾超低溫冰箱系列 上海美譜達(dá)紫外/可見分光光度計(jì)福建總代理 鼓風(fēng)干燥箱系列 實(shí)驗(yàn)室通用儀器 奧豪斯電子天平/臺(tái)稱/快速水分儀系列 芬蘭百得移液器系列/總代理

山東棗莊標(biāo)智GM130超聲波測(cè)厚儀 厚度儀 厚度測(cè)量?jī)x

 超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量
*測(cè)量范圍:1.0~300毫米(鋼)

*精確度:±(1%H+0.1)毫米

*分辨率:0.01mm

*聲速范圍:1000~9999m/s

*工作頻率:5MHz

*管材測(cè)量下限:

Φ10mm探頭:Φ20*3mm(鋼)

Φ6mm探頭:Φ12*2mm(鋼)

*自動(dòng)校對(duì)零點(diǎn),可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正

*線性自動(dòng)補(bǔ)償,在全范圍內(nèi)利用計(jì)算機(jī)軟件對(duì)探頭非線性誤差進(jìn)行修正,以提高準(zhǔn)確度

*數(shù)據(jù)儲(chǔ)存/數(shù)據(jù)查詢/數(shù)據(jù)刪除功能

*測(cè)量聲速:根據(jù)樣塊厚度直接測(cè)出其聲速

*公英制轉(zhuǎn)換

*低電指示功能

*自動(dòng)關(guān)機(jī)功能

*LCD背光燈功能

*保修期:12個(gè)月

 

*包裝方式:彩盒+PP工具盒

*電源:3節(jié)1.5V AAA電池

*產(chǎn)品凈重:230克

*產(chǎn)品尺寸:70*145*28毫米

 

本測(cè)厚儀采用脈沖反射超聲波測(cè)量原理,適用于超聲波能以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測(cè)量。此儀器可對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量?蓮V泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。

濟(jì)南興拓檢測(cè)儀器有限公司(www.xingtuo1718.com)科電產(chǎn)品駐山東辦事處。借鑒國(guó)內(nèi)外儀器行業(yè)的先進(jìn)經(jīng)驗(yàn)和技術(shù),追求人有我優(yōu)、人無我有的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)理念;經(jīng)過多年的發(fā)展已陸續(xù)推廣多種儀器。檢測(cè)儀器產(chǎn)品包含:里氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、地下管道尋線儀,埋地管道防腐層探測(cè)檢漏儀、粗糙度儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、測(cè)振儀、紅外測(cè)溫儀、超聲波探傷儀等近百種產(chǎn)品;公司代理英國(guó)易高、英國(guó)雷迪、美國(guó)華瑞等十多余大類三百多種國(guó)內(nèi)外知名品牌儀器儀表產(chǎn)品。

 

我司主營(yíng)經(jīng)營(yíng):地下管線探測(cè)儀,防腐層探測(cè)檢漏儀、里氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、粗糙度儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、測(cè)振儀、紅外測(cè)溫儀、超聲波探傷儀等近百種產(chǎn)品;公司代理英國(guó)易高、英國(guó)雷迪、美國(guó)華瑞等十多余大類三百多種國(guó)內(nèi)外知名品牌儀器儀表產(chǎn)品。

 

銷售區(qū)域:

北京,天津,重慶,四川,成都,山西,太原,遼寧,沈陽(yáng),吉林,長(zhǎng)春,黑龍江,哈爾濱,江蘇,南京,浙江,杭州,安徽,合肥,福建,福州,江西,南昌,山東,河南,鄭州,湖北,武漢,十堰,湖南,長(zhǎng)沙,廣東,廣州,深圳,廣西,南寧,海南,海口,貴州,貴陽(yáng),云南,昆明,西藏,拉薩,陜西,西安,甘肅,蘭州,青海,西寧,寧夏,銀川,新疆,烏魯木齊,濟(jì)南,青島,淄博,棗莊,東營(yíng),煙臺(tái),濰坊,濟(jì)寧,泰安,威海,日照,萊蕪,臨沂,德州,聊城,濱州,菏澤

 

 

 

該公司產(chǎn)品分類: 測(cè)速儀 測(cè)振儀 煙氣分析儀 電纜故障測(cè)試儀 電纜測(cè)試儀 鹵素水分測(cè)試儀 顯微鏡 千/萬(wàn)分之一天平 數(shù)字酸度計(jì) 數(shù)字電導(dǎo)率儀 雙光束紫外可見分光光度計(jì) 可見光分光光度計(jì) 分光光度計(jì) 工業(yè)底片觀片燈 埋地管線檢測(cè)儀 里氏硬度計(jì)新 管道檢漏儀 黑白密度計(jì)新 個(gè)人劑量?jī)x器 鍍涂層測(cè)厚儀

MTSY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x

MTSY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x

用于測(cè)量普通量具無法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測(cè)量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量,具有度高、讀數(shù)、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn),是有關(guān)生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。

技術(shù)參數(shù)    

1.測(cè)厚儀的度:±0.1mm

2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍:

規(guī) 格

測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬)

測(cè)量厚度

CHD-1000

1000×1000mm

25 mm

CHD-600

600×600 mm

18 mm

 

 

MTSY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x

用于測(cè)量普通量具無法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器,也可用于測(cè)量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量,具有度高、讀數(shù)、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn),是有關(guān)生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。

技術(shù)參數(shù)    

1.測(cè)厚儀的度:±0.1mm

2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍:

規(guī) 格

測(cè)量范圍(長(zhǎng)×寬)

測(cè)量厚度

CHD-1000

1000×1000mm

25 mm

CHD-600

600×600 mm

18 mm

 

 

 

該公司產(chǎn)品分類: 安全網(wǎng)系列 保溫材料壓縮性能試驗(yàn)機(jī) 導(dǎo)熱系數(shù)綜合測(cè)試儀 保溫砂漿拉力試驗(yàn)機(jī) 巖石耐崩解試驗(yàn)儀 巖石膨脹力儀 巖石彈性模量試驗(yàn)機(jī) 天然飾面石材抗折機(jī) 石材耐磨試驗(yàn)機(jī) 數(shù)顯應(yīng)力直剪儀 便攜式直剪儀 巖石滲透儀 巖石點(diǎn)荷載儀 巖石側(cè)向約束膨脹率試驗(yàn)儀 巖石自由膨脹率試驗(yàn)儀 巖石壓入硬度計(jì) 微機(jī)控制巖石抗壓剪試驗(yàn)機(jī) 巖石單軸抗壓強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 微機(jī)控制電液伺服巖石三軸試驗(yàn)機(jī) 恢復(fù)系數(shù)測(cè)定儀

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