光學(xué)平晶,由光學(xué)玻璃經(jīng)精細(xì)研磨而成。具有兩個(或一個)光學(xué)測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。通過其產(chǎn)生的光波干涉條紋來檢測被測物體平面度和平行度的一種工具。
產(chǎn)品優(yōu)勢
·與同類檢測工具比,廉價、、。
使用范圍
·用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度及
兩相對測量的平行度。研合性和平面度
·用于測量高光潔表面的平面度及平行度誤差
產(chǎn)品標(biāo)記
·平晶側(cè)面粘貼產(chǎn)品的序列編號,清晰美觀
分類
·主要分平面平晶、平行平晶兩種。平面平晶細(xì)分為單平面和雙平面兩種。
平行平晶(單塊) 612101--612102系列
品 名 | 直徑(mm) | 厚度(mm) | 產(chǎn) 品 編 號 |
高精度 | φ30 | 12 | 612101 |
一般精度 | φ30 | 12 | 612102 |
高精度平晶制造公差:平行度0.2μm,平面度0.1μm。
一般精度平晶制造公差:平行度0.4μm,平面度0.2μm。
平面平晶(單塊) 612103--612110系列
品 名 | 直徑(mm) | 厚度(mm) | 產(chǎn) 品 編 號 |
單平面 | φ45 | 15 | 612103 |
雙平面 | φ45 | 15 | 612104 |
單平面 | φ50 | 15或20 | 612105 |
雙平面 | φ50 | 15或20 | 612106 |
單平面 | φ60 | 20 | 612107 |
雙平面 | φ60 | 20 | 612108 |
單平面 | φ75 | 20 | 612109 |
雙平面 | φ75 | 20 | 612110 |
平面度<0.1μm
平行平晶(套裝,千分尺檢定專用) 612111--612112系列
品 名 | 直徑(mm) | 厚度(mm) | 產(chǎn)品編號 |
4件套 0-25mm千分尺專用 | φ30 | 12 | 612111 |
12.12 | |||
12.25 | |||
12.37 | |||
4件套 25-50mm千分尺專用 | φ30 | 25 | 612112 |
25.12 | |||
25.25 | |||
25.37 |
平行平晶(套裝,千分尺檢定專用) special use for micrometers 612113--612118系列
品 名 | 直徑(mm) | 厚度(mm) | 產(chǎn)品編號 |
4件套 50-75mm千分尺專用 | φ30 | 50 | 612113 |
50.12 | |||
50.25 | |||
50.37 | |||
4件套 75-100mm千分尺專用 | φ40 | 75 | 612114 |
75.12 | |||
75.25 | |||
75.37 | |||
4件套 0-25mm千分尺專用 | φ30 | 15 | 612115 |
15.12 | |||
15.25 | |||
15.37 | |||
4件套 25-50mm千分尺專用 | φ30 | 25 | 612116 |
27 | |||
27.16 | |||
27.33 | |||
4件套 50-75mm千分尺專用 | φ30 | 50 | 612117 |
52 | |||
52.16 | |||
52.33 | |||
4件套 75-100mm千分尺專用 | φ40 | 75 | 612118 |
77 | |||
77.16 | |||
77.33 |
內(nèi)包裝
·精致木盒
外包裝
·紙箱,適合出口及遠(yuǎn)洋運輸
平面平晶平面度檢測儀(納光燈箱)檢測時,將被測平面緊貼于平晶。兩個表面都必須仔細(xì)擦凈,使兩表面之間可以形成一層極薄的空氣膜。打開鈉光燈,光束從光源發(fā)出,按一定角度投射入平晶。單色光源透平空氣膜,就會產(chǎn)生明暗相間的干涉條紋。如果使用白光(自然光)作為光源,則顯示出幾種顏色的干涉條紋。一個光干涉帶等于光波的半個波長,可用干涉條紋判別試件的平面度偏差。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
萊州市膠帶傳送帶防雨罩,運輸機防塵罩粉塵輸送帶防塵罩的安裝步驟如下:一、工器具及材料準(zhǔn)備:準(zhǔn)備好相應(yīng)防雨罩及防雨罩的固定材料,二、做好相應(yīng)安全措施后,系好安全帶,準(zhǔn)備安裝三、將選擇好的防雨罩安放在繼電器上面,調(diào)整位置,將繼電器整個罩在里面,檢查是否有可能進水的地方,在位置調(diào)整結(jié)束,檢查沒進水的地方之后,用綁扎帶或者其他牢固的繩索將其固定,防止防雨罩自己脫落,不起作用;四、安裝需要爬上變壓器上面,所以在安裝過程中要系好安全帶,防止高空墜落;五、安裝結(jié)束后要檢查確認(rèn),查看是否安裝牢固可靠。六、整理工作現(xiàn)場,收拾工具后撤離工作現(xiàn)場。我公司的粉塵輸送帶防塵罩具有良好的抗沖擊能力,且價格合理,助力眾多企業(yè),減少粉塵污染情況,還能夠起到保護到輸送設(shè)備;還銷售皮帶機遮雨罩、皮帶機膠帶機防護罩、皮帶機卷簾式護罩、膠帶機防護罩、弧形皮帶機防護罩和彩瓦皮帶防塵罩;詳情請聯(lián)系熙卓客服,歡迎來電訂購。萊州市膠帶傳送帶防雨罩,運輸機防塵罩隨著生產(chǎn)企業(yè)的多樣化,粉塵輸送帶防塵罩的使用范圍越來越廣了;很多用戶會購買防塵罩后,自行安裝;現(xiàn)在,熙卓工作人員_為大家介紹一下關(guān)于它的一些基本情況和安裝情況吧,希望對您的使用有所幫助。
平面平晶用途:平行平晶是用于以干涉法測量塊規(guī),以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面、測量儀器及測 平晶量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。 適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用,也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測。
產(chǎn)品名稱 | 規(guī)格 | 級別 | 精度 |
平面平晶 | φ30 | 一級 | 0.03μm |
φ45 | 一級 | 0.03μm | |
φ60 | 一級 | 0.03μm | |
φ80 | 一級 | 0.05μm | |
φ100 | 一級 | 0.05μm | |
φ150 | 一級 | 0.05μm | |
φ200 | 一級 | 0.1μm | |
φ250 | 一級 | 0.1μm | |
φ300 | 一級 | 0.1μm | |
φ500 | 二級 | 0.1μm | |
平行平晶 | 0-25 | 一級 | |
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¥3900元
平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列,每個系列各分六組,每組四塊。
組別 | 兩工作面的平行度 | 工作面的平面度 | 2/3d范圍內(nèi)的平面度 | 價格 |
I(0-25) | 0.6 | 0.1 | 0.05 | 600 |
II(25-50) | 0.6 | 0.1 | 0.05 | 800 |
III(50-75) | 0.8 | 0.1 | 0.05 | 1100 |
IV(75-100) | 1.0 | 0.1 | 0.05 | 1400 |
檢測千分尺平行面用
型號:RL076940平面光帶檢測儀 | 型號:RL076949200mm平面光帶檢測儀 | 型號:RL076950平面度檢測儀 |
用途:機械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。 |
平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做 |
平面平晶產(chǎn)品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。 |
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/7324.html平面光帶檢測儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-76940-pid-7324.html平面光帶檢測儀型號:RL076949200mm平面光帶檢測儀
用途:機械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。功率:20W 電源:220V/50Hz 專用燈源照射 |
平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做 |
平面平晶產(chǎn)品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。 |
技術(shù)參數(shù): |
用途:機械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。 |
平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做 |
平面平晶產(chǎn)品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。 |
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/7324.html平面光帶檢測儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-76950-pid-7324.html平面度檢測儀溫馨提示:潤聯(lián)為您提供產(chǎn)品的詳細(xì)產(chǎn)品價格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息,您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料,聯(lián)系時請說明是在潤聯(lián)看到的,并告知型號
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。 *平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。 平面平晶的技術(shù)參數(shù) |
平面直徑d(mm) | 基本參數(shù) | ||||
1級 | 2級 | ||||
d范圍內(nèi) | 2/3d范圍內(nèi) | d范圍內(nèi) | 2/3d范圍內(nèi) | ||
30 45 60 | 0.03 | ---- | 0.1 | 0.05 | |
80 100 150 | 0.05 | 0.03 | |||
200 250 300 | 0.08 0.1 0.15 | 0.05 0.05 0.09 | 0.12 0.15 0.2 | 0.06 0.08 0.1 |
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。 *平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。 平面平晶的技術(shù)參數(shù) |
平面直徑d(mm) | 基本參數(shù) | ||||
1級 | 2級 | ||||
d范圍內(nèi) | 2/3d范圍內(nèi) | d范圍內(nèi) | 2/3d范圍內(nèi) | ||
30 45 60 | 0.03 | ---- | 0.1 | 0.05 | |
80 100 150 | 0.05 | 0.03 | |||
200 250 300 | 0.08 0.1 0.15 | 0.05 0.05 0.09 | 0.12 0.15 0.2 | 0.06 0.08 0.1 |