4500測厚儀,德國QuaNix4500膜厚儀
QuaNix4200/4500: 1.只需調(diào)零、無需校準(zhǔn) 2.Fe/NFe兩用探頭 3.一體化設(shè)計(jì) 4.自動開關(guān)機(jī) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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菲希爾XDL系列膜厚儀,是發(fā)展繼承其前身FISCHERSCOPE X-RAY光譜膜厚儀XDL-B系列,其非破壞式的測量,特別適合金屬鍍層厚度,如一些五金零件、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量檢測。其采用了高次數(shù)率的比例接收器,可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下,對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量,另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下,可測量多至24元素,這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL系列膜厚儀的長期穩(wěn)定性是十分高的,這使儀器減少校正所需要的時間及次數(shù),便于管理儀器,并提高生產(chǎn)效率.應(yīng)用范圍廣泛,包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層(如:裝飾性鉻的鍍層)、在電子及半導(dǎo)體行業(yè)中分析其功能性的鍍層、可用于電路板測量、電鍍槽中的藥水成份分析。
1.本儀器是KETT品牌最新款雙用一體機(jī),,機(jī)型小巧,方便攜帶,性能穩(wěn)定,功能廣泛的實(shí)用型機(jī).有較高的性價比.
2.對磁性和渦流的測定方式有自動識別轉(zhuǎn)換功能,無需人工調(diào)整.有4種語言顯示及儲存功能等.
3.探頭上配有曲面器可測圓型,管型及弧型工件,此曲面器也可輕松拔下,還可測量平面及小面積的工件.
技術(shù)參數(shù):
型號 LZ-990J
測定方法 電磁和渦流兩用型
測定對象 磁性金屬上的非磁性涂鍍層和非磁性金屬上的絕緣層
測量范圍 0~3000μm或0~120.0mils
測量精度 ﹤50μm時,±1μm >50μm﹤1000μm時,±2% >1000μm≦3000μm時,±3%
分辨率 <100μm時,0.1μm >100μm時,1μm
最小測試面積 ≥5*5mm
數(shù)據(jù)輸出接口 USB接口或連接打印機(jī)(可選)
顯示方式 數(shù)顯式LCD
統(tǒng)計(jì)功能 測試數(shù)/最大值/最小值/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差,可存儲數(shù)據(jù) 存儲數(shù)據(jù) 有成組儲存(電磁式和渦流式各8組),共計(jì)16組
功能設(shè)定 各種設(shè)定共15種
測量單位 um和mils互換
測量方式 單次測量/連續(xù)測量
語言顯示 中文/英文/日文/韓語
工作方式 直接方式/成組方式 統(tǒng)計(jì)功能
測試次數(shù)/最大值/最小值/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差
存儲數(shù)據(jù) 1000個
其它 可連接VZ-330型打印機(jī),可與PC機(jī)通訊上下限界數(shù)據(jù),
外形 尺寸:82(W)*99.5(D)*32(H)mm
重量:160g
可選配件 工作臺,打印機(jī),打印機(jī)連接線,電腦通訊線
為了實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的高品質(zhì)要求,在我們的企業(yè)內(nèi)部擁有極為高效的縱向生產(chǎn)機(jī)制。在我們的生產(chǎn)車間內(nèi),高素質(zhì)的員工使用最現(xiàn)代化的機(jī)器認(rèn)真、敬業(yè)地完成每一道生產(chǎn)步驟。我們非常希望客戶能從我們的產(chǎn)品中獲得最大的收益,因此我們樂于將我們知道的應(yīng)用技巧和專業(yè)知識進(jìn)行推廣宣傳。我們會按客戶的使用程度舉辦“測量基礎(chǔ)技術(shù)培訓(xùn)班”、 “設(shè)備最佳使用研討會”和“針對特別應(yīng)用的座談會”。特點(diǎn):配備了半導(dǎo)體探測器,由于有更好的信噪比,能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量使用微聚焦管可以測量較小的測量點(diǎn),但因?yàn)槠湫盘柫枯^低,不適合測量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu) 底部C型開槽的大容量測量艙有彈出功能的快速、可編程XY平臺典型應(yīng)用領(lǐng)域鍍層和合金的材料分析(還適用于薄鍍層和低含量成分)來料檢驗(yàn),生產(chǎn)監(jiān)控研究和開發(fā)電子工業(yè)接插件和觸點(diǎn)黃金、珠寶和鐘表工業(yè)可以測量數(shù)納米薄的鍍層,如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層痕量元素分析在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛(Pb)含量硬質(zhì)鍍層分析
技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。一次可同時分析最多24個元素,五層鍍層。分析檢出限可達(dá)2ppm,最薄可測試0.005μm。分析含量一般為2ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1%長期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
德國BYK PG-3432 破壞式涂層測厚儀 破壞式膜厚儀
BYK3432 破壞式膜厚儀 用途:1、在各種底材上(鐵,非磁性金屬,塑料,木材等)測量涂層厚度(測量范圍2-2000 µm);2、通過顯微鏡可觀察,陷坑,裂痕,氣泡,鱗片,層間附著力以及底材預(yù)處理的質(zhì)量控制;3、可用十字劃格刀進(jìn)行附著力的測試符合標(biāo)準(zhǔn)ASTM D 3359,DIN 53 151,以及壓痕硬度測試符合標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 2815;訂購信息:型號 名稱 燈泡 電池 顯微鏡 尺寸PG-3430 多用途干膜檢驗(yàn)儀 帶刀頭 白色LED 1.5V 50倍 110×80×75mmPG-3432 多用途干膜檢驗(yàn)儀 不帶刀頭 白色LED 1.5V 50倍 110×80×75mm基本配置如下:多用途干膜檢驗(yàn)儀;旋轉(zhuǎn)頭附3個膜厚刀頭(#1-3);內(nèi)置式顯微鏡(標(biāo)尺0-2mm);發(fā)光二極管(LED);電池;操作說明書;注意:1、訂購PG-3432時,膜厚刀頭必須另外訂購;2、附著力刀頭和壓痕硬度刀頭必須另外訂購;
刀頭選件:編號 名稱 漆膜厚度A3419 特殊刀頭 0-100umA3420 特殊刀頭 0-3000umA3421 1號刀頭 20-2000umA3422 2號刀頭 10-1000umA3423 3號刀頭 2-200um
分體兩用型膜厚儀,鐵基鋁基涂膜測厚儀-DR280磁性渦流兩用涂層測厚儀。 . 雙功能技術(shù)的測厚儀,完成磁感應(yīng)和電渦流測量自動轉(zhuǎn)換應(yīng)用雙功能測量技術(shù),能夠自動識別磁性或非磁性底材,然后采用相應(yīng)的測試方法,適用于各種測量環(huán)
境。可測量非磁性底材上的非導(dǎo)電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。
東儒DR280兩用型膜厚儀應(yīng)用了磁性和渦流兩種測量方法,測量金屬表面的覆層厚度。 磁性測厚方法,可以快速無損檢測磁性金屬鋼、鐵材料的涂層,鍍層,鋅層,鉻層,油漆,塑料,粉末,干膜,搪瓷等覆層的厚度。 渦流測厚方法,可以快速無損檢測非磁性金屬鋁,銅,不銹鋼 材料表面上的涂料,油漆,塑料,粉末,干膜,塑料等覆層厚度的都可以測量。 涂層測厚儀DR280型號是一款兩用型涂層測厚儀,中國 廣東出產(chǎn)的涂層測厚儀,最好用,涂層測厚儀首選東儒測厚儀280涂層測厚儀;涂層測厚儀也叫覆層測厚儀,油漆測厚儀,磁性渦流兩用測厚儀,專業(yè)檢測金屬表面涂層厚度由中國。廣州東儒儀器公司制造提供。
***操作簡單,測試速度快,靈敏度好,測量精度高***具有兩種測試方式:連續(xù)(CONT INUE)和單次(SINGLE)測量方式***連接電腦進(jìn)行通信,讀出存貯數(shù)據(jù)進(jìn)行保存或打印(適用U型主機(jī))***公英制轉(zhuǎn)換μm/Mil***設(shè)有四個統(tǒng)計(jì)功能:最大值(MAX)、最小值(MIN)、平均值(MEA)、測量次數(shù)(No)***大容量存儲,可存貯800多個測量數(shù)據(jù)*** 背光顯示模式,低電壓指示***手動/自動關(guān)機(jī)功能l 可采用兩種校準(zhǔn)方式:零點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)***操作過程有蜂鳴聲標(biāo)示(單次測量方式)***自動識別鐵基和非鐵基底材
二、DR280涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)A、測量范圍:0-1250/3000μm(超過1250μm要提前告知廠家另行定制)B、使用環(huán)境:溫度:0℃-50℃,濕度:20%RH—90%RH,無強(qiáng)磁場環(huán)境下使用C、最薄基體:0.4mmD、測量精度:±(1%-3%)+1.5μmE、分辨率:0.1μm /1μm(100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm)F、最小基體面積10*10mmG、最小曲率:凸5mm;凹5mmH、基體臨界厚度:0.5mmI、外形尺寸:130mm*70mm*24mmJ、重量:100gK、電源:三節(jié)(7號)堿性電池
三、DR280涂層測厚儀儀器標(biāo)配:儀器箱:一個主機(jī):一臺;標(biāo)準(zhǔn)片:4片基體:2塊(鐵基、鋁基)電池:2節(jié)清潔布:1塊說明書:1份(內(nèi)附保修卡)合格證:1份
選配:U型主機(jī),數(shù)據(jù)連接線、光盤軟件
東儒DR280涂層測厚儀廣泛用于在防腐施工,制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
四、 儀器免費(fèi)保修一年,七天包換;
廣州東儒科技公司是一家專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)測厚儀的廠家,采用進(jìn)口工業(yè)級元件,穩(wěn)定性好,可靠性高,測量誤差小,操作簡單,外觀精美,功能強(qiáng)大,本公司全國誠征代理商,歡迎來電合作。
專業(yè)級測厚儀膜厚儀 德國菲尼克斯Surfix Pro S
2.同屏顯示各統(tǒng)計(jì)值,配合7種測頭
UHZ-111 UHZ-111/D UHZ-111/C UHZ-111/S UGD UHZ-58 UHZ-58/W UHZ-58/F UHZ-58/D UHZ-58/C UHZ-58/S UHZ UGD/HG5 KEY FYKG FYK RF-3001 UQZ-71LX UHZ-111/S UHZ-111/C UHZ-111/D UHZ-111 UHZ-111/F UHZ-58
3.可測鐵基體和有色金屬基體上的鍍層和絕緣涂層
4.量程:0~10mm 精度:0.1μm,見測頭參數(shù)
5.帶RS-232接口,背景光 .可連小打印機(jī) 6.探頭需另選購
●仕様 | LZ-990「エスカル」 |
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測定方式 | 電磁・渦電流式兼用(自動判別機(jī)能付き) |
測定対象 | 磁性金屬上の非磁性被膜、および非磁性金屬上の 絶縁被膜 |
測定範(fàn)囲 | 0 ~ 2000μm または0 ~ 80.0mils |
測定精度 | 50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2% 1000μm以上2000μm未満±3% |
適合規(guī)格 | 電磁誘導(dǎo)式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376 |
分解能 | 100μm未満0.1μm100μm以上1μm |
表示方法 | デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm) |
データメモリ | 約1000點(diǎn) |
アプリケーション メモリ | 電磁式・渦電流式各8種 計(jì)16本の検量線を記憶 |
電源 | 電池1.5V (単4 アルカリ)× 2 |
消費(fèi)電力 | 40mW(バックライト非點(diǎn)燈時) |
使用溫度範(fàn)囲 | 0 ~ 40℃ |
機(jī)能 | 検量線メモリ(アプリケーション・メモリ)、測定データメモリ、データ削除、データ出力、ロット區(qū)分、自動電源ON/OFF、機(jī)能、時計(jì)機(jī)能、上下限設(shè)定、統(tǒng)計(jì)計(jì)算、バックライト機(jī)能、単位設(shè)定、等の各種機(jī)能15 種 |
外部出力 | パソコン(USB)、プリンタ(RS-232C)に出力可能 |
寸法・質(zhì)量 | 82(W)× 99.5(D)× 32(H)mm、約160g |
付屬品 | ゼロ板ホルダ(鉄素地、アルミ素地)、標(biāo)準(zhǔn)板(50、100、1000μm)、キャリングポーチ、電池1.5V(単4アルカリ)×2、リストストラップ |
オプション | 標(biāo)準(zhǔn)板(付屬品以外の厚さ)、測定スタンドLW-990、プリンタVZ-330、プリンタケーブル、USBパソコンケーブル、透明保護(hù)カバー、データ管理ソフト:「データロガー LDL-01」 |
韓國MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀
產(chǎn)品介紹
X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。
XRF-2000 系列分為以下三種: 1. H-Type :密閉式樣品室,方便測量的樣品較大,高度約100mm以下。 2. L-Type : 密閉式樣品室,方便測量 樣品較小,高度約30mm以下。 3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測 。 應(yīng)用 : 測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。 行業(yè) : 五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。 特色 : 非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準(zhǔn)。 可測量高達(dá)六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。 相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告 。 全系列獨(dú)特設(shè)計(jì)樣品與光徑自動對準(zhǔn)系統(tǒng)。 標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。 準(zhǔn)直器口徑多種選擇,可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。 移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差 。 獨(dú)特2D與3D或任意位置表面量測分析。 雷射對焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式,亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報告 。
光學(xué)2 0X 影像放大功能,更能精確對位。
單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。 優(yōu)於美製儀器的設(shè)計(jì)與零件可 靠度以及擁有價格與零件的最佳優(yōu)勢。 儀器正常使用保固期一年,強(qiáng)大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。 測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能,
其物點(diǎn)為:高分辨率,固態(tài)探測器; 可分析超薄樣品
分析有害物質(zhì),元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;
可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;
電鍍?nèi)芤悍治觯?/span>
定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規(guī)則形狀;
貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);
自動過濾器,多準(zhǔn)直儀(五個準(zhǔn)直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;
性價比超強(qiáng)的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
儀器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)
可測量樣器大?。篧550mm D550mm H30mm