當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時，驅(qū)逐一個內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個空穴，使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為 10-12-10-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應(yīng)，亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。它的能量是特征的，與入射輻射的能量無關(guān)。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收，而是以輻射形式放出，便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。

    K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可產(chǎn)生一系列的譜線，稱為K系譜線：由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。同樣,L層電子被逐出可以產(chǎn)生L系輻射。如果入射的X 射線使某元素的K層電子激發(fā)成光電子后L層電子躍遷到K層，此時就有能量ΔE釋放出來，且ΔE=EK-EL，這個能量是以X射線形式釋放，產(chǎn)生的就是Kα 射線，同樣還可以產(chǎn)生Kβ射線 ，L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發(fā)現(xiàn)，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：

λ=K(Z-s)-2

這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數(shù)，因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。

（二）XR-306能量色散X熒光光譜儀特點(diǎn)

1.無需制樣即可直接測量.

2. 所有元素可以同時測量,且短短幾分鐘即可完成分析,可以應(yīng)付大批量待測樣品.

3. 檢出限低,可以滿足WEEE和ROHS指令要求.

4. 無損分析. 分析樣品不被破壞，分析快速，，便于自動化。 

5. 沒有人為誤差,誰操作都得到一樣的結(jié)果.

6. 操作簡單,可以單鍵完成操作.

7.分析的元素范圍廣，從Na到U均可測定；

8.熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡便；

9.分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達(dá)ppm量級，

10、連續(xù)測試重復(fù)性極強(qiáng)，測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定

（三）能量色散光譜分析儀與波長色散光譜分析儀的區(qū)別

能量色散分析儀只有一個探測器，它對測量Ｘ射線能量范圍是不受限制的，而且這個探測器能同時測量到所有能量的Ｘ射線。也就是說只要激發(fā)樣品的Ｘ射線的能量和強(qiáng)度能滿足激發(fā)所測樣品的條件，對一組分析的元素都能同時測量出來。一般有以下三種基本類型的探測器可用于測量Ｘ射線：密封式或流氣式充氣探測器、閃爍探測器、半導(dǎo)體探測器。

    能量色散的條件是當(dāng)樣品被激發(fā)后產(chǎn)生的Ｘ射線通過窗口進(jìn)入探測器探測器把Ｘ射線能量轉(zhuǎn)換成電荷脈沖，每個Ｘ射線光子在探測器中生成的電荷與該光子的能量成正比。該電荷被轉(zhuǎn)換成電壓脈沖，當(dāng)這些電壓脈沖經(jīng)充分放大后，被送入脈沖處理器，脈沖處理器把這些代表著各個元素的模擬信號再轉(zhuǎn)換成為數(shù)字信號，由計(jì)算機(jī)進(jìn)行分類，分別存入多道分析器（ＭＣＡ）的相應(yīng)通道內(nèi)，一般使用１０２４－２０４８道ＭＣＡ。這些通道覆蓋了分析的整個能量范圍。

    波長色散分析儀是用多個衍射晶體分開待測樣品中各元素的波長，由此對元素進(jìn)行測量。晶體被安裝在適當(dāng)位置，以滿足布拉格定律的要求。 Ｘ射線熒光分析和其它光譜分析一樣，也是一種相對分析。這就是說，要有一套參考標(biāo)樣，這些參考標(biāo)樣能夠在可能感興趣的范圍內(nèi)覆蓋所測元素。首先對這些標(biāo)樣進(jìn)行測量，記錄欲分析元素的強(qiáng)度，建立濃度（含量）、強(qiáng)度（ＣＰＳ）校準(zhǔn)曲線，存入處理數(shù)據(jù)的計(jì)算機(jī)，供以后分析同一類型未知樣品時使用。 最簡單的校準(zhǔn)線是直線，強(qiáng)度與濃度的依賴關(guān)系反映儀器的靈敏度。

另外由于校準(zhǔn)線要在很長一段時間內(nèi)使用，所以應(yīng)對儀器的漂移作出調(diào)整，盡管這種漂移不大，但它確實(shí)存在。這可以通過對每個分析元素選用高、低兩個參考點(diǎn)來實(shí)現(xiàn)。制備若干被稱作ＳＵＳ（調(diào)整樣）的特殊樣品，它們含有適量的分析元素，有很好的穩(wěn)定性。利用它們可以求出高、低強(qiáng)度值。

產(chǎn)品規(guī)格：

要特點(diǎn)

塑料模式： 可測塑料樣品中13種標(biāo)準(zhǔn)元素；鈦、鉻、鐵、銅、鋅、硒、溴、鎘、錫、銻、汞和鉛? 應(yīng)對RoHS指令，無需樣品前處理過程? 同時檢測并顯示出Cd/Cr/Pb/Hg/Br等十幾種元素的ppm含量? 檢測時間0-300秒? 合金模式： 可測合金、焊料以及金屬制品中的25種標(biāo)準(zhǔn)元素；鈦、釩、鉻、錳、鐵、鎳、銅、鋅、硒、鋯、鈮、鉬、鉿、鉭、鎢、錸、鉛、鉍、鈀、銀、錫、鎘、金和鉑? 用于合金鑒別、成分分析（百分比含量，可精確到0.01％即100ppm）? 無損樣品，檢測時間0-60秒? 同時檢測及顯示多達(dá)25種標(biāo)準(zhǔn)元素含量，可定做特殊元素? 適用于焊錫、不銹鋼、黃銅及其他金屬制品中鉛含量的檢測?

X-Strata980（X熒光鍍層測厚及痕量元素分析儀）

1、主要技術(shù)參數(shù)：    ◇分析方法：光電比色分析法     ◇量程范圍：吸光度值0～1.999A 濃度值0～99.99%    ◇測量精度：符合GB223.3～5－88標(biāo)準(zhǔn)    ◇電源電壓：220V±10% 50Hz  2、主要特點(diǎn)：    ◇采用“智能動態(tài)跟蹤”和“標(biāo)準(zhǔn)曲線的非線性回歸”技術(shù)，結(jié)果數(shù)顯直讀百分含量，自動打印        ◇可儲存曲線數(shù)由原來的9條增加到15條，分析范圍更廣；      ◇零點(diǎn)、滿度自動跟蹤，無需精確調(diào)整；      ◇輕觸32鍵音響提示，減少組合操作，性更高、操作更簡單；      ◇可輸入日期和爐號，自動打印結(jié)果；      ◇調(diào)整波長、變更比色皿、改變稱樣量及合理利用曲線，可擴(kuò)大測量元素的品種及含量范圍      ◇采用了的冷光源技術(shù)，使測量數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定。     

一、KDS-3C金屬元素分析儀主要技術(shù)參數(shù)：  KDS-3C型金屬元素分析儀包含KDS-3A、3B型分析儀的所有功能并在原來九條工作曲線的基礎(chǔ)上增加至十五條工作曲線,大大拓寬了測量元素的種類. 零點(diǎn)、滿度均自動跟蹤,無需精確調(diào)整. 采用觸摸鍵盤,32鍵音響提示,多種快捷功能鍵,操作更為簡便. 可輸入日期和爐號,并可自動打印記錄. 采用了的冷光源技術(shù)使數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定。

 二、KDS-3C金屬元素分析儀技術(shù)參數(shù)：   1、波長范圍：400-750nm（濾光片）  2、吸光度范圍：0-2A   3、濃度范圍：0.000-9.999% 10.00-99.99%自動換檔顯示   4、數(shù)據(jù)存貯：EPROM，斷電數(shù)據(jù)可保持?jǐn)?shù)年   5、電     源：交流220V±10%   6、耗 電 量：≤50W