儀器介紹
EXF-10B是集多年的經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
性能特點(diǎn)
滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求,最小可達(dá)0.2mm
高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn).
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線(xiàn)屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào):EXF-10B
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析檢出限可達(dá)2ppm,最薄可測(cè)試0.005μm。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線(xiàn)性回收程序
工作溫度:15℃至30℃ 濕度:≤80%
電源: 交流220V±5V
外型尺寸:670mm×470mm×370mm
測(cè)量倉(cāng):520mm×370mm×105mm
重量:45kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)
彩色打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
鍍層測(cè)厚儀|鍍層測(cè)厚儀價(jià)格|鍍層測(cè)厚儀報(bào)價(jià)|深圳鍍層測(cè)厚儀|廣東鍍層測(cè)厚儀|廣西鍍層測(cè)厚儀|江蘇鍍層測(cè)厚儀|山東鍍層測(cè)厚儀|河南鍍層測(cè)厚儀|鍍層測(cè)厚儀什么價(jià)格?|國(guó)產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀|金屬鍍層測(cè)厚儀|貴金屬鍍層測(cè)厚儀|金鍍層測(cè)厚儀|銀鍍層測(cè)厚儀|鎳鍍層測(cè)厚儀|
梳式測(cè)厚儀是尺狀的,在六面都有支撐基點(diǎn),每個(gè)面均有不同長(zhǎng)度的齒。測(cè)量時(shí),將量程范圍與漆膜估計(jì)厚度相近的那個(gè)面垂直地壓入濕膜。測(cè)量范圍:25-3000μm
涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點(diǎn):MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;所有型號(hào)均可配所有探頭;可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
技術(shù)特征型號(hào) 1100 2100 3100 4100MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值) 1 10 99可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) 1 500 500數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar √ √ √讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cp √ √ 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar √ √ 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √ √ 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) √ 分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 √ √ 顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 √ √ √ 其他功能 設(shè)置極限值 √ √ 連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別最大最小值 √ √ 連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
√ √ 連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值 √ √ 可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
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Ø 通過(guò)自動(dòng)定位功能提高操作性 測(cè)量樣品時(shí),以往需花費(fèi)約10秒的樣品對(duì)焦,現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成,大大提高樣品定位的操作性。
Ø 微區(qū)膜厚測(cè)量精度提高 通過(guò)縮小與樣品間的距離等,致使在微小準(zhǔn)直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測(cè)量的精度。
Ø 多達(dá)5層的多鍍層測(cè)量 使用薄膜FP法軟件,即使沒(méi)有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測(cè)量。
Ø 廣域觀(guān)察系統(tǒng)(選配) 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測(cè)量位置。
Ø 對(duì)應(yīng)大型印刷線(xiàn)路板(選配) 可對(duì)600×600mm的大型印刷線(xiàn)路板進(jìn)行測(cè)量。
Ø 低價(jià)位 與以往機(jī)型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。
性能\型號(hào) | TT100 | TT100a | TT110 | TT120 | TT130 |
測(cè)量范圍 | 0.75~300.00㎜(鋼,由探頭決定) | ||||
顯示分辨率 | 0.1㎜ | 0.01㎜ | |||
背光顯示 | 無(wú) | 有 | 無(wú) | ||
聲速范圍 | 1000~9999m/s | 5900m/s | 1000~9999m/s | ||
工件表面溫度 | .-10~+60℃ | .-10~+300℃ | .-10~+60℃ | ||
顯 示 | 4位LCD | ||||
測(cè)量精度 | ±(1%H+0.1)㎜ H為被測(cè)物實(shí)際厚度 | ||||
管材測(cè)量下限 | ⊙20㎜×3.0㎜(鋼,由探頭決定) | ||||
探頭直徑 | ⊙6㎜(選配),⊙10㎜(標(biāo)配),⊙12㎜(選配) | ||||
校 準(zhǔn) | 4.0㎜(鋼) | ||||
電壓指示 | 低電壓提示 | ||||
電 源 | AA型堿性1.5V電池(2節(jié)) | ||||
操作時(shí)間 | 連續(xù)操作可達(dá)250小時(shí) | ||||
外形尺寸 | 126㎜×68㎜×23㎜ | ||||
重 量 | 170g | ||||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī),5MHz探頭,4.0㎜鋼校準(zhǔn)塊,AA型堿性電池,耦合劑 | ||||
可選附件 | 2.5MHz探頭(3~300㎜),7MHz探頭(0.75~60㎜) |
超聲波探傷儀、測(cè)厚儀、硬度計(jì)
EPOCH 4型數(shù)字超聲波探傷儀
EPOCH XT超聲波探傷儀
EPOCH LT超聲波探傷儀
EPOCH 4PLUS 超聲波探傷儀
EPOCH 4B 經(jīng)濟(jì)型超聲探傷儀
MG2 MG2-XT MG2-DL超聲波測(cè)厚儀
26MG 26MG-XT 26XTDL系列超聲波測(cè)厚儀
Model 25超聲波測(cè)厚儀
25HP PLUS超聲波測(cè)厚儀
25DL PLUS超聲波測(cè)厚儀
37DL PLUS 超聲波腐蝕厚度測(cè)量?jī)x
QuaNix4200、QuaNix4500、QuaNix1200、QuaNix1500、QuaNix7500、QuaNix8500、QuaNixkeyless涂層測(cè)厚儀
HARTIP1000 、HARTIP1500、 HARTIP3000硬度計(jì)
TDS-100超聲波流量計(jì)
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儀器特點(diǎn):搭載MS-WINDOWS系統(tǒng)(的操作性與高精度測(cè)定)與IBM PC 相容個(gè)人電腦 使用與IBM PC相容個(gè)人電腦,采用MS-WINDOWS軟體,使用時(shí)多彩多姿。 采用二種濾波器 用用數(shù)位式濾波器外另有機(jī)械式濾波器(兩種濾波器),在測(cè)定時(shí),若是最適當(dāng)?shù)臈l件下,經(jīng)??傻玫降木?。準(zhǔn)值儀5種孔徑內(nèi)藏式 最小的準(zhǔn)值儀孔徑僅0.1 mm,可測(cè)定極微小的部品。 標(biāo)準(zhǔn):0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另備有2種特別規(guī)格可供選購(gòu)。 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5 0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5自動(dòng)測(cè)定測(cè)量臺(tái) 利用滑鼠來(lái)調(diào)整測(cè)量位置,非常敏捷快速?;蚴菧y(cè)量位置已完成登陸時(shí),可連續(xù)自動(dòng)測(cè)定,利用座標(biāo)補(bǔ)正、連結(jié)頻道,來(lái)應(yīng)付各種測(cè)量軌跡。亦可用自動(dòng)測(cè)定來(lái)作標(biāo)準(zhǔn)片校正。 的顯示機(jī)能 測(cè)定部顯示盡像的表示 X線(xiàn)照射部可由WINDOWS畫(huà)面上取得照射部的表示。從準(zhǔn)儀照射測(cè)定物的位置,可由倍率率更機(jī)能來(lái)實(shí)現(xiàn)盡面上測(cè)出物放大。在膜厚測(cè)定中的能譜表示 由多頻分析器可快速處理能譜分析??蓤?zhí)行測(cè)定物的能譜分析表示,操作簡(jiǎn)單。 提長(zhǎng)資料處理的速度 充實(shí)測(cè)量報(bào)告的作成機(jī)能 采用MS-WINDOW軟件,測(cè)定畫(huà)的擷取,非常簡(jiǎn)便,可充襯測(cè)量報(bào)告的制作機(jī)能??赏瑫r(shí)間隔處理多項(xiàng)工作,機(jī)器在測(cè)量中亦可處理其他工作:包括如測(cè)量報(bào)告的制作。測(cè)定物膜厚附著分布表示 以三次元圖案來(lái)表示測(cè)定物膜厚附著狀態(tài)的分布,作判定時(shí)一目了然。 獲得安心的性。 自己診斷機(jī)能及X線(xiàn)管保食機(jī)能 自己診斷機(jī)能,迅速的對(duì)策來(lái)排除機(jī)器的因擾。附有X線(xiàn)管的使用時(shí)間及耐久時(shí)間表示機(jī)能,可加強(qiáng)保養(yǎng)的安全性。各機(jī)型規(guī)格參數(shù):
機(jī)型 | 手動(dòng)測(cè)量臺(tái) | 自動(dòng)測(cè)量臺(tái) | ||
測(cè)量主體 | 測(cè)量臺(tái)尺寸(mm) | 170*110 | 240*220 | |
移動(dòng)量 | X(mm) | 70 | 200 | |
Y(mm) | 70 | 200 | ||
Z(mm) | 50(最大150) | 50 | ||
測(cè)定物最大高度(mm) | 50(option 150) | 50 | ||
尺寸(mm) | 602(W)*463(D)*732(H) | |||
重量(kg) | 55 | 61 | ||
樣品最大何重(kg) | 3 | 1 | ||
電腦 | 尺寸(mm) | 本體182(W)*383(D)/顯示幕412(W)*415(D)*432(H) | ||
電腦重量(kg) | 本體9/顯示幕16 | |||
印表機(jī) | 重量(kg) | 5.2 | ||
電源 | AC100V±10V(option AC115V、AC230 |
儀器詳細(xì)介紹:
1. X線(xiàn)源 | 油浸式1.2mA小型微小焦點(diǎn)X線(xiàn)管. 50kV管電壓,可變管電壓。 | |
2. 照射方式 | 由上而下垂直照射方式。 | |
3. 檢出器 | 比例計(jì)數(shù)管。 | |
4. 濾波器 | 採(cǎi)用 Co 和 Ni 雙濾波器及數(shù)位式濾波器,可單一或同時(shí)使用。 | |
5. 準(zhǔn)直儀 | Collimator 採(cǎi)用五種孔徑一體成型式,可自動(dòng)切換使用。0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0 ψ㎜.(選購(gòu)) 0.05 ×0.5, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5 ψ㎜.(選購(gòu)) 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5 ψ㎜. | |
6. 樣品觀(guān)測(cè)系統(tǒng) | 彩色CCD及高畫(huà)質(zhì)顯示幕。 | |
7. 譜分析器 | 使用256高頻分析器,光譜自動(dòng)分析,在執(zhí)行測(cè)量及運(yùn)算時(shí),非??焖?。 | |
電腦操作部: | 8. 電腦系統(tǒng)(※僅供參考) | IBM 相容中文個(gè)人電腦. CPU:Intel Celeron 1GHz. RAM:128 MB.Floppy Disk:3.5 ×1, 40倍速 CD-ROM ×1.Hard Disk:40 GB.17" 高畫(huà)質(zhì)顯示幕.EPSON彩色噴墨式印表機(jī)。 |
9. 本機(jī)型(COSMOS-1X系列)之操作系統(tǒng)採(cǎi)中文視窗(Windows98)對(duì)話(huà)式操作,非常簡(jiǎn)便。 | ||
特性說(shuō)明: | 10. 測(cè)量項(xiàng)目 | 單層膜厚測(cè)定. 2層膜厚測(cè)定. 3層膜厚測(cè)定. 無(wú)電解鎳膜厚測(cè)定. 合金膜厚成份比同時(shí)測(cè)定. 元素的光譜峰值測(cè)定分析. |
11. 測(cè)量材質(zhì) | 原子序22(Ti) ~ 82(Pb)為激發(fā)法測(cè)量。 原子序22以下為吸收法測(cè)量。 | |
12. 測(cè)量範(fàn)圍 | 原子序22 ~ 24 , 約 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 , 約 0.1 ~ 30 um. 原子序41 ~ 51 , 約 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 , 約 0.05~ 10 um. | |
13. 測(cè)量機(jī)能 | 同一點(diǎn)重複測(cè)定機(jī)能 輸出形式設(shè)定.能譜測(cè)定. | |
14. 測(cè)量條件或膜厚規(guī)格可以保存 | 當(dāng)要測(cè)量相同的製品時(shí),若測(cè)量條件已儲(chǔ)存,可以馬上進(jìn)行測(cè)量。最大檢量線(xiàn)檔案數(shù):可登錄儲(chǔ)存100組檔案。最大測(cè)量檔案數(shù) :可登錄儲(chǔ)存300組檔案。 | |
15. 檔案記錄 | 每一個(gè)批號(hào)可儲(chǔ)存無(wú)限個(gè)測(cè)量資料.(因所使用的電腦之容量大小而定)每一個(gè)測(cè)量檔案可輸入及儲(chǔ)存公司名稱(chēng).每個(gè)批號(hào)可單獨(dú)執(zhí)行統(tǒng)計(jì)處理.每個(gè)測(cè)量檔案可輸入不同的檢量線(xiàn)(校正曲線(xiàn)). | |
16. 資料處理 | 統(tǒng)計(jì)值表示:平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、上下限值範(fàn)圍、Cp、Cpk。X-R 管制圖.柱狀圖:有自動(dòng)設(shè)定及自己任意設(shè)定二種方式??刹噬杏∮^(guān)物顯示幕上所觀(guān)測(cè)之圖像。 | |
17. 底材補(bǔ)正 | 當(dāng)樣品與標(biāo)準(zhǔn)片的底材不同時(shí),可作底材補(bǔ)正。 | |
18. 觀(guān)物顯示幕 | 十字刻度線(xiàn)的高解析度彩色觀(guān)物顯示幕 | |
安全裝置. | 19. 本機(jī)俱有自動(dòng)安全斷電系統(tǒng)功能. | |
20. 由鎖匙開(kāi)關(guān)來(lái)控制X 線(xiàn)輸出,以防止外人任意操作. | ||
其他機(jī)能. | 21. 密碼辨識(shí)功能 | |
22. 裝置維護(hù)調(diào)整 | ||
23. 測(cè)量部主機(jī) | 尺寸:362(W) ×425(D) ×486(H) ㎜.重量:約 44.2 Kg. | |
24. 操作部:(※僅供參考) | 電腦尺寸:180(W) ×420(D) ×360(H) ㎜.重量:約 8.8 Kg.顯示幕尺寸:360(W) ×420(D) ×370(H) ㎜.重量:約16.5 Kg.印表機(jī)尺寸:500(W) ×250(D) ×300(H) ㎜.重量:約 4.3 Kg. | |
X-Y-Z軸可移動(dòng)式測(cè)量臺(tái) | 25. 測(cè)量臺(tái)尺寸及移動(dòng)量. | 測(cè)量臺(tái)尺寸 170 (W) ×100 (D) ㎜移動(dòng)量(X-Y-Z軸) 70 ×70 ×50 ㎜. |
26. 測(cè)量樣品限制 | 樣品限制高度: 45㎜樣品限制重量: 3 Kg. | |
使用電源. | 27. 電壓 | AC100V ±10V ; 50/60Hz(選購(gòu)) AC110V, AC220V. |
28. 容量 | 700V |
CMI900/950系列X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定??赏瑫r(shí)測(cè)定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶(hù)自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿(mǎn)足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。