技術(shù)參數(shù)：測量范圍：0.75-300mm（鋼）.顯示精度：0.01mm測量誤差：1 mm～10 mm :±0.05mm 10mm～200mm :（±0.5%H+0.1）mm管道測量下限（鋼）：Φ20mm×2.0mm測量周期：2次/ 秒測量頻率：5MHz聲速范圍：1000-9999m/s顯示：4位半數(shù)字LCD顯示，帶冷光源照明顯示零位調(diào)整：探頭放在測厚儀試塊上按鍵自動調(diào)零線性校正：微處理器程序自動線性校正（即V Path 自動補償）報警功能：可設置限界，對限界外的測量值能自動蜂鳴報警工作電壓：3V（2節(jié)AA尺寸堿性電池串聯(lián)）關(guān)閉：連續(xù)2分鐘無動作自動關(guān)閉，有開關(guān)按鈕顯示內(nèi)容：厚度值、耦合狀態(tài)、電量狀態(tài)，可顯示CAL標定狀態(tài)、聲速外形尺寸：132 X 76.2 mm整機重量：345g

工作原理本超聲波測厚儀對厚度的測量，是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過耦合劑到達被測體，一部分超聲信號被物體底面反射，探頭接收由被測體底面反射的回波，精確地計算超聲波的往返時間，并按下式計算厚度值，再將計算結(jié)果顯示出來。

式中：

       H－測量厚度；       v－材料聲速；       t－超聲波在試件中往返一次的傳播時間。

5、儀器配置表1 儀器配置 序號名稱數(shù)量備注標準配置1主機1臺 2標準探頭（5MHz）1只 3耦合劑1瓶 4ABS儀器箱1只 5隨機資料1份 6電池倉工具1把 7AA（5號）尺寸堿性電池2只 可選配置8粗晶探頭（2MHz）9微徑探頭（7.5MHz） 

ST8000光學薄膜測厚儀是把UV-Vis光照在測量對象上，利用從測量對象中反射出來的光線測量膜的厚度的產(chǎn)品。 這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導電體薄膜現(xiàn)場，特別在半導體及有關(guān)Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。ST8000光學薄膜測厚儀產(chǎn)品特性

1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4) 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5) 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6) 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設計產(chǎn)品。

7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)用于特殊領(lǐng)域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a

TESTER SANGYO國內(nèi)總代理：上海貿(mào)和榮貿(mào)易有限公司

 TH-104    紙、薄膜厚度測定儀

本機是TH-101,102系列的數(shù)碼萬分表類型。因為是數(shù)碼類型、自動回零、有抓頭兒等的功能、校正也簡便。根據(jù)選項能打印所需求的數(shù)據(jù)。

配 置

紙用

型  式  ：A   型

 精 度  ：1 /1000mm                           

 行 程 ：8mm      

 載  重 ：550g /cm  

加壓尺寸：14.3mm￠

薄膜用

型  式 ：A   型’

精 度  ：1 /1000mm

行 程  ：8mm

載  重：125g

加壓尺寸： 5mm￠ 

參考規(guī)格……JISP-8111 (紙用) JISK-6781(薄膜用)

付屬品   ……回收箱

機體尺寸……約(正面的寬度)9x(深)14x(高度)27ｃｍ

TESTER SANGYO國內(nèi)總代理：上海貿(mào)和榮貿(mào)易有限公司

 TH-104    紙、薄膜厚度測定儀

本機是TH-101,102系列的數(shù)碼萬分表類型。因為是數(shù)碼類型、自動回零、有抓頭兒等的功能、校正也簡便。根據(jù)選項能打印所需求的數(shù)據(jù)。

配 置

紙用

型  式  ：A   型

 精 度  ：1 /1000mm                           

 行 程 ：8mm      

 載  重 ：550g /cm  

加壓尺寸：14.3mm￠

薄膜用

型  式 ：A   型’

精 度  ：1 /1000mm

行 程  ：8mm

載  重：125g

加壓尺寸： 5mm￠ 

參考規(guī)格……JISP-8111 (紙用) JISK-6781(薄膜用)

付屬品   ……回收箱

機體尺寸……約(正面的寬度)9x(深)14x(高度)27ｃｍ

功 能: 1.測量錫膏厚度:計算方形、不規(guī)則多邊形、圓形錫膏面積和體積。 2.檢查幾何形狀、X軸間距、Y軸間距和兩線夾角，零件腳共平面度 3.影像捕捉、處理；S.P.C分析、報表輸出 量測原理： 非接觸激光測度儀由專用激光器產(chǎn)生線型光束，以一定的傾角投射到待測量目標上，由于待測與基板存在 高度差，此時觀測到的目標和基板上的激光束相應出現(xiàn)斷續(xù)落差，根據(jù)三角函數(shù)關(guān)系可以用觀測到的落差 計算出待測目標與周圍基板存在高度差，從而實現(xiàn)非接觸式的快速測量。 軟件介紹： 1.視頻觀察、圖像保存、厚度測量、數(shù)據(jù)記錄、背景光、激光亮度控制、面積（方形、不規(guī)則多邊形、圓 形）/體積/間距/（X軸、Y軸）/夾角測量，可記憶24條生產(chǎn)線任意數(shù)量產(chǎn)品。 2.根據(jù)的產(chǎn)品、生產(chǎn)線和日期范圍進行數(shù)據(jù)查詢、修改、刪除、導出（文本和Excel表格）、打印，能統(tǒng)計平均值、最大值、最小值、方差、標準差、不良數(shù)、不良率、偏度、峰度、Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk，并可繪制、預覽、打印X-BAR管制圖和R管制圖（其中的管制參數(shù)可自行設定） 技術(shù)參數(shù)：

測量原理：非接觸式、激光束 平臺：大理石平臺，機座不可以移動 測量精度 ±0.002mm 重復測量精度:±0.004mm 基座尺寸:320mm×500mm×360mm 系統(tǒng)尺寸: L320mm×W500mm×H360mm 光學放大倍率:25x～110x（5檔可調(diào)） 照明系統(tǒng):可調(diào)亮度環(huán)形LED光源（PC控制亮度） 測量光源:高精度紅色激光線 測量軟件:SH-110-2D/HSPC1000（Windows2000/XP平臺）

技術(shù)參數(shù)

顯示方法：高對比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光； 測量范圍：0.75～300mm（鋼中），公制與英制可選擇； 聲速范圍：1000~9999 m/s： 分 辨 率：0.1mm 示值精度： ±（1%H+0.1）mm H為被測物實際厚度 測量周期：單點測量時4次/秒、掃描模式10次/秒； 存儲容量：可存儲20組（每組最多99個測量值）厚度測量數(shù)據(jù)。 工作電壓：3V（2節(jié)AA尺寸堿性電池串聯(lián)） 持續(xù)工作時間：約100小時（不開背光時） 外形尺寸：150×74×32 mm 整機重量：245g

主要功能

適合測量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度； 可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用； 具有探頭零點校準、兩點校準功能, 可對系統(tǒng)誤差進行自動修正； 已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度； 具有耦合狀態(tài)提示功能； 有EL背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用； 有剩余電量指示功能，可實時顯示電池剩余電量； 具有自動休眠、自動關(guān)機等節(jié)電功能； 小巧、便攜、性高，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動、沖擊和電磁干擾；

工作原理

本超聲波測厚儀對厚度的測量，是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過耦合劑到達被測體，一部分超聲信號被物體底面反射，探頭接收由被測體底面反射的回波，精確地計算超聲波的往返時間，并按下式計算厚度值，再將計算結(jié)果顯示出來。  環(huán)境溫度：

操作溫度－20～＋50℃；存儲溫度：-30℃～＋70℃相對濕度≤90％；周圍環(huán)境無強烈振動、無強烈磁場、無腐蝕性介質(zhì)及嚴重粉塵。