EDX860D貴金屬檢測(cè)儀器

X?zé)晒夤庾V儀EDX860D

型 號(hào):EDX860D

產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置

 本儀器專門針對(duì)貴金屬測(cè)試,可測(cè)試環(huán)形樣品內(nèi)壁及普通平面測(cè)試,具有以下特點(diǎn):體積小巧,外型莊重大方,手動(dòng)升降平臺(tái)滿足不同大小樣品的測(cè)試,樣品固定方便快捷,可方便更換準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器直徑為1.5mm,可測(cè)試較小區(qū)域,下照式,大窗口正比計(jì)數(shù)盒計(jì)數(shù)率滿足分析需要,寬闊樣品腔可滿足較大樣品的測(cè)試,攝像頭激光精確定位實(shí)現(xiàn)可視化定位,良好的射線屏蔽確保操作人員。

應(yīng)用領(lǐng)域首飾加工廠 金銀珠寶首飾店 貴金屬冶煉廠 質(zhì)量檢驗(yàn)部門 分析測(cè)試中心 典當(dāng)行

XRF檢測(cè)法與傳統(tǒng)檢測(cè)法比較

檢測(cè)法

結(jié)果

試金石法

主觀性強(qiáng),不科學(xué),性差

比重法

參照物的純度難以確定

化學(xué)法

成本高,操作復(fù)雜,對(duì)樣品有所損害

XRF分析法

快速、無損、科學(xué)、穩(wěn)定

核心技術(shù)

1.大功率光管;2. 超大窗口面積正比計(jì)數(shù)盒; 3. 外型小巧,莊重大方; 4. 寬闊樣品腔,方便操作及測(cè)試較大樣品; 5. 手動(dòng)升降平臺(tái)確保測(cè)試不同大小環(huán)狀樣品; 6.小準(zhǔn)直器,利于測(cè)試樣品小區(qū)域; 7. 攝像頭與激光定位,可視地定位到被測(cè)點(diǎn),測(cè)試時(shí)激光點(diǎn)自動(dòng)關(guān)閉,利于拍攝清晰照片; 8. 良好的射線屏蔽確保操作人員的安全。

 

儀器技術(shù)指標(biāo):

分析含量一般為1ppm到99.9%; 任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型; 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型; 多變量非線性回歸程序; 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%; 工作穩(wěn)定性為0.1%。 電源:交流220V±5V; 測(cè)量時(shí)間:60-200S 管壓:5-50KV 管流:50-1000μA 溫度適應(yīng)范圍:15℃-30℃

 

標(biāo)準(zhǔn)配置:

正比計(jì)數(shù)盒;50W X光管; 高壓電源 50kV@1mA;攝像頭激光定位裝置; 高靈敏度信號(hào)檢測(cè)電子電路;手動(dòng)升降平臺(tái); 樣品夾;橡皮泥; 準(zhǔn)直器直徑為1.5 mm。

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